存储器装置的测试方法2024

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113517018 A (43)申请公布日 2021.10.19 (21)申请号 202010279779.0 (22)申请日 2020.04.10 (71)申请人 华邦电子股份有限公司 地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号 (72)发明人 潘嗣文　 (74)专利代理机构 北京同立钧成知识产权代理 有限公司 11205 代理人 朱颖　刘芳 (51)Int.Cl. G11C 29/04(2006.01) G11C 29/10(2006.01) 权利要求书2页 说明书5页 附图6页 (54)发明名称 存储器装置的测试方法 (57)摘要 本发明提供一种存储器装置的测试方法，可 降低测试的错误覆盖率。内存装置的测试方法包 括：关闭存储器装置的备援功能，并对第一存储 单元数组写入第一数据；启动存储器装置的备援 功能，并对第二存储单元数组写入第二数据，其 中第一数据与第二数据互补；依据边界条件，对 非易失存储区块读取备援信息，基于备援信息， 读取第二存储单元数组以获得第一读取数据；以 及依据比较第二数据与第一读取数据以产生第 一测试结果。其中，第二存储单元数组包括第一 存储单元数组的部分存储单元以及至少一备援 存储单元。 A 8 1 0 7 1 5 3 1 1 N C CN 113517018 A