发明

自对准多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极及其制造方法

2023-06-07 23:09:16 发布于四川 5
  • 申请专利号:CN202211688041.5
  • 公开(公告)日:2025-08-01
  • 公开(公告)号:CN115784143A
  • 申请人:安徽芯动联科微系统股份有限公司|||北京芯动致远微电子技术有限公司
摘要:本发明公开一种自对准多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极及其制造方法,通过在单晶硅圆片上刻蚀多个深槽、氧化单晶硅圆片、淀积多晶硅的方法,形成多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极,单晶硅晶格完美、物理特性好,可用于制造可动电极和功能结构;多晶硅固定在单晶硅固定柱上作为固定电极。单晶硅可动电极和多晶硅固定电极通过一次光刻/刻蚀的图形决定,实现自对准,电极间水平方向的电极间距由二氧化硅层的厚度决定,本发明的多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极具有尺寸精度高、加工重复性好、性能一致性好,加工工艺简单的优点,而且由于不需要用到价格较高的SOI圆片,也降低了成本。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115784143 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211688041.5 (22)申请日 2022.12.27 (71)申请人 安徽芯动联科微系统股份有限公司 地址 233042 安徽省蚌埠市财院路10号 申请人 北京芯动致远微电子技术有限公司 (72)发明人 华亚平 苏佳乐  (74)专利代理机构 蚌埠鼎力专利商标事务所有 限公司 34102 专利代理师 王琪 颜晓玲 (51)Int.Cl. B81B 7/00 (2006.01) B81B 7/02 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图9页 (54)发明名称 自对准多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极及 其制造方法 (57)摘要 本发明公开一种自对准多晶硅单晶硅混合 MEMS垂直电极及其制造方法,通过在单晶硅圆片 上刻蚀多个深槽、氧化单晶硅圆片、淀积多晶硅 的方法,形成多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电极, 单晶硅晶格完美、物理特性好,可用于制造可动 电极和功能结构;多晶硅固定在单晶硅固定柱上 作为固定电极。单晶硅可动电极和多晶硅固定电 极通过一次光刻/刻蚀的图形决定,实现自对准, 电极间水平方向的电极间距由二氧化硅层的厚 度决定,本发明的多晶硅单晶硅混合MEMS垂直电 极具有尺寸精度高、加工重复性好、性能一致性 A 好,加工工艺简单的优点,而且由于不需要用到 3 价

最新专利