发明

一种非抛光制作薄膜传感器用金属基底的方法

2023-06-23 07:20:48 发布于四川 2
  • 申请专利号:CN202110573749.5
  • 公开(公告)日:2024-09-20
  • 公开(公告)号:CN113321179A
  • 申请人:曹建峰
摘要:本发明公开了一种非抛光制作薄膜传感器用金属基底的方法,以硅片作为牺牲层,借助硅片表面极低的粗糙度,直接在其表面电镀金属层,然后侵蚀去掉硅片。本发明借助硅片作为牺牲层结合电镀的工艺制作出表面粗糙度达到硅片表面程度的金属基底,所采用的工艺成熟简单,节省了大量的时间和成本;同时整个工艺可以在超净间开展,避免了金属基底从“非洁净”空间转移至超净间带来了污染物,降低了在金属基底上成功制作传感器的难度。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113321179 A (43)申请公布日 2021.08.31 (21)申请号 202110573749.5 (22)申请日 2021.05.25 (71)申请人 曹建峰 地址 234000 安徽省宿州市埇桥区师范路 电厂小区C栋403 (72)发明人 曹建峰 毛羽宏  (74)专利代理机构 北京高航知识产权代理有限 公司 11530 代理人 李浩 (51)Int.Cl. B81C 1/00 (2006.01) B82Y 15/00 (2011.01) B82Y 40/00 (2011.01) 权利要求书1页 说明书3页 (54)发明名称 一种非抛光制作薄膜传感器用金属基底的 方法 (57)摘要 本发明公开了一种非抛光制作薄膜传感器 用金属基底的方法,以硅片作为牺牲层,借助硅 片表面极低的粗糙度,直接在其表面电镀金属 层,然后侵蚀去掉硅片。本发明借助硅片作为牺 牲层结合电镀的工艺制作出表面粗糙度达到硅 片表面程度的金属基底,所采用的工艺成熟简 单,节省了大量的时间和成本;同时整个工艺可 以在超净间开展,避免了金属基底从“非洁净”空 间转移至超净间带来了污染物,降低了在金属基 底上成功制作传感器的难度。 A 9 7 1 1 2 3 3 1 1 N C CN 113321179 A 权 利 要 求 书

最新专利