实用新型

一种陶瓷电容老化测试装置2025

2025-03-01 14:27:06 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202520158311.4
  • 公开(公告)日:2025-02-28
  • 公开(公告)号:CN222545430U
  • 申请人:广东鸿志电子科技有限公司|||汕头职业技术学院
摘要:本实用新型公开了一种陶瓷电容老化测试装置,属于老化测试设备技术领域,包括操作台,操作台的顶端中部靠近后侧壁的位置处固接有支撑架,支撑架的前侧壁所设滑动槽中滑动连接有横截面呈凸形结构的滑动座,滑动座的前端固接有移动板,移动板的底端固接有安装架;本实用新型,在使用该陶瓷电容老化测试装置时,可将放置板上多个放置孔中各放置待检测的电容,而电机驱动螺杆转动,并促使移动板带动安装架下移,且使得安装架带动多个导电探针下移,而下移过程中,两个倒L型抵压杆的底端第一斜面均对L型导向杆的顶端第二斜面进行挤压,从而使得两个L型导向杆相对向移动,并促使两个夹持板可对放置板进行夹持固定。

专利内容

本实用新型公开了一种陶瓷电容老化测试装置,属于老化测试设备技术领域,包括操作台,操作台的顶端中部靠近后侧壁的位置处固接有支撑架,支撑架的前侧壁所设滑动槽中滑动连接有横截面呈凸形结构的滑动座,滑动座的前端固接有移动板,移动板的底端固接有安装架;本实用新型,在使用该陶瓷电容老化测试装置时,可将放置板上多个放置孔中各放置待检测的电容,而电机驱动螺杆转动,并促使移动板带动安装架下移,且使得安装架带动多个导电探针下移,而下移过程中,两个倒L型抵压杆的底端第一斜面均对L型导向杆的顶端第二斜面进行挤压,从而使得两个L型导向杆相对向移动,并促使两个夹持板可对放置板进行夹持固定。G01R31/00(2006.01);G01R1/04(2006.01)

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