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非易失性存储器件和包括该存储器件的存储系统2024

2024-03-11 07:20:02 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202311028190.3
  • 公开(公告)日:2024-03-08
  • 公开(公告)号:CN117672309A
  • 申请人:三星电子株式会社
摘要:提供了一种具有改进的裂纹检测可靠性的非易失性存储器件。该非易失性存储器件包括:字线,在第一方向上延伸;单元接触插塞,电连接到字线并在与第一方向相交的第二方向上延伸;网状裂纹检测电路,在字线上且不与字线接触;以及环形裂纹检测电路,在字线上且不与字线接触,其中,网状裂纹检测电路电连接到外围电路区域中的裂纹检测晶体管,环形裂纹检测电路包括在与第一方向和第二方向相交的第三方向上延伸的第一裂纹检测金属布线、以及在第三方向延伸的第二裂纹检测金属布线。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117672309 A (43)申请公布日 2024.03.08 (21)申请号 202311028190.3 (22)申请日 2023.08.15 (30)优先权数据 10-2022-0112690 2022.09.06 KR (71)申请人 三星电子株式会社 地址 韩国京畿道 (72)发明人 金度亨 金志荣 金智源 成锡江  梁宇成  (74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任 公司 11021 专利代理师 张霞 周祺 (51)Int.Cl. G11C 16/06 (2006.01) H01L 21/768 (2006.01) H10B 41/40 (2023.01) 权利要求书3页 说明书13页 附图9页 (54)发明名称 非易失性存储器件和包括该存储器件的存 储系统 (57)摘要 提供了一种具有改进的裂纹检测可靠性的 非易失性存储器件。该非易失性存储器件包括: 字线,在第一方向上延伸;单元接触插塞,电连接 到字线并在与第一方向相交的第二方向上延伸; 网状裂纹检测电路,在字线上且不与字线接触; 以及环形裂纹检测电路,在字线上且不与字线接 触,其中,网状裂纹检测电路电连接到外围电路 区域中的裂纹检测晶体管,环形裂纹检测电路包 括在与第一方向和第二方向相交的第三方向上 延伸的第一裂纹检测金属布线、以及在第三方向 延伸的第二裂纹检测金属布线。 A

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