一种用于SRAM芯片的安全系统

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114792532 A (43)申请公布日 2022.07.26 (21)申请号 202110099158.9 (22)申请日 2021.01.25 (71)申请人 中国科学院微电子研究所 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 (72)发明人 李博　苏泽鑫　宿晓慧　王磊　 卜建辉　赵发展　韩郑生　 (74)专利代理机构 北京天达知识产权代理事务 所(普通合伙) 11386 专利代理师 窦艳鹏 (51)Int.Cl. G11C 5/14 (2006.01) 权利要求书3页 说明书8页 附图1页 (54)发明名称 一种用于SRAM芯片的安全系统 (57)摘要 本发明涉及一种用于SRAM芯片的安全系统， 属于SRAM存储器技术领域，解决了现有技术不能 准确衡量SRAM芯片的老化程度、不能给出老化程 度安全示警的问题。该系统包括：压印力度检测 模块，用于启动后自动检测待测SRAM芯片的压印 力度，判断其安全性能是否达标，不达标时输出 压印超阈值信号至控制模块；控制模块，用于定 时控制压印力度检测模块启动；以及，根据接收 到的压印超阈值信号自动生成匹配校验信息至 主机，根据主机的回复信息判断校验是否成功； 如果成功，拒绝校验之后主机发出的所有对该 SRAM的擦除指令；如果失败，利用寄生电源模块 A 提供的电能对该SRAM芯片的存储信息进行擦除； 2 寄生电源模块，用于为控制模块的上述擦除操作 3 5 2 提供电能。 9