发明

在非易失性存储器中生成偏置电压的设备和方法

2023-05-14 11:26:59 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202111493038.3
  • 公开(公告)日:2025-05-20
  • 公开(公告)号:CN114627936A
  • 申请人:意法半导体国际有限公司
摘要:实施例提供了在非易失性存储器中生成偏置电压的设备和方法。本公开涉及一种包括非易失性存储器(NVM)的集成电路。该集成电路包括偏置生成器,该偏置生成器产生用于NVM的可靠读取操作的稳定字线电压和位线电压。本公开涉及存储器读取、擦除验证和编程验证的低电压存储器操作。本公开涉及非易失性存储器电路,该非易失性存储器电路也可以在数字电压供应范围内的低电源电压处操作。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114627936 A (43)申请公布日 2022.06.14 (21)申请号 202111493038.3 G11C 16/26 (2006.01) (22)申请日 2021.12.08 (30)优先权数据 63/122,835 2020.12.08 US 17/542,323 2021.12.03 US (71)申请人 意法半导体国际有限公司 地址 瑞士日内瓦 (72)发明人 V ·拉纳 N ·达拉尔  (74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 专利代理师 李春辉 (51)Int.Cl. G11C 16/08 (2006.01) G11C 16/30 (2006.01) G11C 16/34 (2006.01) 权利要求书4页 说明书11页 附图8页 (54)发明名称 在非易失性存储器中生成偏置电压的设备 和方法 (57)摘要 实施例提供了在非易失性存储器中生成偏 置电压的设备和方法。本公开涉及一种包括非易 失性存储器(NVM)的集成电路。该集成电路包括 偏置生成器,该偏置生成器产生用于NVM的可靠 读取操作的稳定字线电压和位线电压。本公开涉 及存储器读取、擦除验证和编程验证的低电压存 储器操作。本公开涉及非易失性存储器电路,该 非易失性存储器电路也可以在数字电压供应范 围内的低电源电压处操作。 A 6