发明

半导体存储器及其操作方法

2023-06-02 13:54:47 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202010553079.6
  • 公开(公告)日:2024-09-17
  • 公开(公告)号:CN112599173A
  • 申请人:爱思开海力士有限公司
摘要:提供了半导体存储器及其操作方法。一种半导体存储器包括:存储器块,包括多个页;外围电路,用于在对存储器块的写入操作中对存储器块执行第一擦除操作、编程操作和第二擦除操作;以及控制逻辑,用于控制外围电路以执行写入操作。控制逻辑被配置为控制外围电路以在第一擦除操作中,将存储器块中包括的多个存储器单元擦除到具有比目标擦除状态的阈值电压更高的阈值电压的预擦除状态,并且控制外围电路以在第二擦除操作中,将多个存储器单元之中的一些存储器单元擦除到目标擦除状态。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112599173 A (43)申请公布日 2021.04.02 (21)申请号 202010553079.6 (22)申请日 2020.06.17 (30)优先权数据 10-2019-0122538 2019.10.02 KR (71)申请人 爱思开海力士有限公司 地址 韩国京畿道 (72)发明人 徐文植  (74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 崔卿虎 (51)Int.Cl. G11C 16/14(2006.01) G11C 16/08(2006.01) G11C 16/04(2006.01) 权利要求书2页 说明书11页 附图12页 (54)发明名称 半导体存储器及其操作方法 (57)摘要 提供了半导体存储器及其操作方法。一种半 导体存储器包括:存储器块,包括多个页;外围电 路,用于在对存储器块的写入操作中对存储器块 执行第一擦除操作、编程操作和第二擦除操作; 以及控制逻辑,用于控制外围电路以执行写入操 作。控制逻辑被配置为控制外围电路以在第一擦 除操作中,将存储器块中包括的多个存储器单元 擦除到具有比目标擦除状态的阈值电压更高的 阈值电压的预擦除状态,并且控制外围电路以在 第二擦除操作中,将多个存储器单元之中的一些 存储器单元擦除到目标擦除状态。 A 3 7 1 9 9

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