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电子元件及半导体封装装置

2023-06-16 07:24:08 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202110375327.7
  • 公开(公告)日:2024-10-11
  • 公开(公告)号:CN113200509A
  • 申请人:日月光半导体制造股份有限公司
摘要:本公开涉及电子元件及半导体封装装置。该电子元件包括第一密封焊垫和溢流焊垫,第一密封焊垫和溢流焊垫位于电子元件的表面,第一密封焊垫用于形成密封结构,溢流焊垫用于在焊接制程中容纳从第一密封焊垫溢出的焊料;第一密封焊垫和溢流焊垫之间通过颈部连接,颈部的面积小于溢流焊垫的面积;或者第一密封焊垫和溢流焊垫相互分离,第一密封焊垫和溢流焊垫之间的距离小于预设距离。本公开的电子元件及半导体封装装置能够实现MEMS装置和基板之间密封结构的焊料量的自动调节,在降低制程复杂度的同时保证MEMS半导体封装装置的密封性能和电连接性能。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113200509 A (43)申请公布日 2021.08.03 (21)申请号 202110375327.7 (22)申请日 2021.04.08 (71)申请人 日月光半导体制造股份有限公司 地址 中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26 号 (72)发明人 叶昶麟  (74)专利代理机构 北京植德律师事务所 11780 代理人 唐华东 (51)Int.Cl. B81B 7/00 (2006.01) B81B 7/02 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图4页 (54)发明名称 电子元件及半导体封装装置 (57)摘要 本公开涉及电子元件及半导体封装装置。该 电子元件包括第一密封焊垫和溢流焊垫,第一密 封焊垫和溢流焊垫位于电子元件的表面,第一密 封焊垫用于形成密封结构,溢流焊垫用于在焊接 制程中容纳从第一密封焊垫溢出的焊料;第一密 封焊垫和溢流焊垫之间通过颈部连接,颈部的面 积小于溢流焊垫的面积;或者第一密封焊垫和溢 流焊垫相互分离,第一密封焊垫和溢流焊垫之间 的距离小于预设距离。本公开的电子元件及半导 体封装装置能够实现MEMS装置和基板之间密封 结构的焊料量的自动调节,在降低制程复杂度的 同时保证MEMS半导体封装装置的密封性能和电 A 连接性能。 9 0 5 0 0 2 3 1 1 N C CN 113200509 A

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