发明

一种振动陀螺不平衡质量修调方法及测试装置

2023-08-03 07:12:19 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202310235384.4
  • 公开(公告)日:2023-09-01
  • 公开(公告)号:CN116519012A
  • 申请人:中国人民解放军国防科技大学
摘要:本发明属于振动陀螺技术领域,具体是涉及到一种振动陀螺不平衡质量修调方法及测试装置,包括以下步骤:S1、将振动陀螺驱动至摇摆模态,进行二次谐波误差的检测与修调;S2、将振动陀螺驱动至摇摆模态,进行一次谐波误差的检测与修调;S3、将振动陀螺驱动至上下模态,进行三次谐波误差的检测与修调,本发明通过对谐振结构振动位移检测,通过多个模态的振动位移计算出谐振结构的二次谐波误差、一次谐波误差和三次谐波误差。能够在不增加额外结构的条件下,快速实现振动陀螺不平衡质量检测,具有检测效率高,硬件成本低的优势。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116519012 A (43)申请公布日 2023.08.01 (21)申请号 202310235384.4 (22)申请日 2023.03.13 (71)申请人 中国人民解放军国防科技大学 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路 109号 (72)发明人 石岩 席翔 卢坤 孙江坤  肖定邦 吴学忠 张勇猛  (74)专利代理机构 长沙国科天河知识产权代理 有限公司 43225 专利代理师 赵小龙 (51)Int.Cl. G01C 25/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图9页 (54)发明名称 一种振动陀螺不平衡质量修调方法及测试 装置 (57)摘要 本发明属于振动陀螺技术领域,具体是涉及 到一种振动陀螺不平衡质量修调方法及测试装 置,包括以下步骤:S1、将振动陀螺驱动至摇摆模 态,进行二次谐波误差的检测与修调;S2、将振动 陀螺驱动至摇摆模态,进行一次谐波误差的检测 与修调;S3、将振动陀螺驱动至上下模态,进行三 次谐波误差的检测与修调,本发明通过对谐振结 构振动位移检测,通过多个模态的振动位移计算 出谐振结构的二次谐波误差、一次谐波误差和三 次谐波误差。能够在不增加额外结构的条件下, 快速实现振动陀螺不平衡质量检测,具有检测效 A 率高,硬件成本低的优势。 2 1 0 9 1 5 6 1 1 N C CN 116519012 A

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