存储器的检测方法、检测系统、可读介质及电子设备

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114550796 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210172346.4 (22)申请日 2022.02.24 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230601 安徽省合肥市经济技术开发 区空港工业园兴业大道388号 (72)发明人 楚西坤　第五天昊　刘东　 (74)专利代理机构 北京律智知识产权代理有限 公司 11438 专利代理师 孙宝海 (51)Int.Cl. G11C 29/08 (2006.01) G11C 29/12 (2006.01) 权利要求书2页 说明书12页 附图6页 (54)发明名称 存储器的检测方法、检测系统、可读介质及 电子设备 (57)摘要 本公开提供了一种存储器的检测方法、检测 系统、计算机可读介质与电子设备，检测方法包 括：向一目标字线连接的存储单元中写入第一电 压，与相邻的至少一条其他字线连接的存储单元 中写入第二电压；或者，向一目标字线连接的存 储单元中写入第二电压，与相邻的至少一条其他 字线连接的存储单元中写入第一电压；第一电压 大于第二电压；向其他字线重复写入第一电压或 第二电压；读取目标字线连接的存储单元，并判 断各存储单元的读取结果是否等于其写入的第 一电压或第二电压；若存储单元的读取结果是不 A 等于其写入的第一电压或第二电压，则判断该存 6 储单元漏电。能够将具有潜在双位元失效的芯片 9 7 0 提前筛选出来。 5