PCT发明

用于等离子体半导体处理的多层聚焦环2026

2024-02-15 07:46:37 发布于四川 27
  • 申请专利号:CN202280035387.7
  • 公开(公告)日:2026-01-23
  • 公开(公告)号:CN117561585A
  • 申请人:北京北方华创微电子装备有限公司
摘要:本发明总体涉及等离子体半导体处理以及相关的部件和工具。在示例中,聚焦环包括第一环形层和第二环形层。第二环形层的上表面构造成通过第一环形层的下表面接触该上表面来支撑第一环形层。下表面和上表面在周向上呈周期性结构,并且具有相同的周期长度。下表面和上表面中的至少一个包括第一突出径向线(PRL)、第二PRL和布置在第一PRL和第二PRL之间的凹入径向线(RRL)。周期长度为从第一PRL至第二PRL。下表面和/或上表面从第一PRL到RRL是连续的,并且下表面和/或上表面从RRL到第二PRL的是连续的。第二环形层相对于第一环形层可旋转地移动。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117561585 A (43)申请公布日 2024.02.13 (21)申请号 202280035387.7 (22)申请日 2022.08.25 (85)PCT国际申请进入国家阶段日 2023.11.15 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/CN2022/114863 2022.08.25 (71)申请人 北京北方华创微电子装备有限公司 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术 开发区文昌大道8号 (72)发明人 彭宇霖 赵晋荣  (74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理 有限公司 11112 专利代理师 彭瑞欣 王婷 (51)Int.Cl. H01J 37/21 (2006.01) 权利要求书6页 说明书19页 附图11页 (54)发明名称 用于等离子体半导体处理的多层聚焦环 (57)摘要 本发明总体涉及等离子体半导体处理以及 相关的部件和工具。在示例中,聚焦环包括第一 环形层和第二环形层。第二环形层的上表面构造 成通过第一环形层的下表面接触该上表面来支 撑第一环形层。下表面和上表面在周向上呈周期 性结构,并且具有相同的周期长度。下表面和上 表面中的至少一个包括第一突出径向线(PRL)、 第二PRL和布置在第一PRL和第二PRL之间的凹入 径向线(RRL)。周期长度为从第一PRL至第二PRL。 下表面和/或上表面从第一PRL到RRL是连续的, 并且下表面和/或上表面从RRL到第二PRL的是连 续的。第二环形

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