发明

一种新型高隔离低插损开关矩阵芯片

2023-06-15 07:06:41 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202310082375.6
  • 公开(公告)日:2025-08-05
  • 公开(公告)号:CN116260441A
  • 申请人:中国电子科技集团公司第二十九研究所
摘要:本发明公开了一种新型高隔离低插损开关矩阵芯片,包括设置于砷化镓PHEMT半导体电路层上的开关矩阵电路,所述开关矩阵电路包括m个输入端、m个开关结构、垂直过渡结构、n个功分器、n个输出端,所述垂直过渡结构设置为共面波导的结构形式,所述输入端电连接所述开关结构的信号输入端,所述开关结构的信号输出端电连接所述垂直过渡结构和所述功分器的信号输入端,所述垂直过渡结构的信号输出端电连接所述功分器的信号输入端,所述功分器的信号输出端电连接所述输出端。采用砷化镓pHEMT工艺实现高集成开关矩阵芯片,该开关矩阵芯片集成多个开关和功分器,并集成高隔离垂直过渡结构,可实现高隔离、低损耗功能。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116260441 A (43)申请公布日 2023.06.13 (21)申请号 202310082375.6 (22)申请日 2023.01.16 (71)申请人 中国电子科技集团公司第二十九研 究所 地址 610036 四川省成都市金牛区营康西 路496号 (72)发明人 刘云刚 韩思扬 卢子焱 王海龙  (74)专利代理机构 成都九鼎天元知识产权代理 有限公司 51214 专利代理师 管高峰 (51)Int.Cl. H03K 17/51 (2006.01) H03K 17/00 (2006.01) H03K 19/0175 (2006.01) H01L 23/498 (2006.01) 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 (54)发明名称 一种新型高隔离低插损开关矩阵芯片 (57)摘要 本发明公开了一种新型高隔离低插损开关 矩阵芯片,包括设置于砷化镓PHEMT半导体电路 层上的开关矩阵电路,所述开关矩阵电路包括m 个输入端、m个开关结构、垂直过渡结构、n个功分 器、n个输出端,所述垂直过渡结构设置为共面波 导的结构形式,所述输入端电连接所述开关结构 的信号输入端,所述开关结构的信号输出端电连 接所述垂直过渡结构和所述功分器的信号输入 端,所述垂直过渡结构的信号输出端电连接所述 功分器的信号输入端,所述功分器的信号输出端 电连接所述输出端。采

最新专利