磁控溅射设备2024
- 申请专利号:CN202311047603.2
- 公开(公告)日:2024-05-31
- 公开(公告)号:CN117051367A
- 申请人:上海陛通半导体能源科技股份有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117051367 A (43)申请公布日 2023.11.14 (21)申请号 202311047603.2 (22)申请日 2023.08.18 (71)申请人 上海陛通半导体能源科技股份有限 公司 地址 201000 上海市浦东新区庆达路315号 13幢3F (72)发明人 汪昌州 张慧 宋维聪 (74)专利代理机构 北京超凡宏宇知识产权代理 有限公司 11463 专利代理师 曹灿 (51)Int.Cl. C23C 14/35 (2006.01) C23C 14/50 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图5页 (54)发明名称 磁控溅射设备 (57)摘要 本发明公开了一种磁控溅射设备,通过将传 统的适配器、内衬和盖板构成一体式结构,从而 可以增加热量在这三者之间的传递,同时一体式 的工艺套件在腔室内的位置固定可以避免部件 在运动过程中颗粒缺陷的产生,提高工艺产品的 良率,结构更为简单。由于工艺套件内部设置的 冷却通道从适配部延伸至盖板部,如此可以在冷 却通道内通入的冷却介质(例如水、气等)来带走 工艺套件的热量,增加工艺套件的热传导效率, 降低腔室内等离子轰击引起工艺套件温升现象, 冷却效果更佳,即使在大功率下等离子连续轰击 工艺套件,工艺套件的温度也不会升高,从而降 A 低工艺套件辐射到晶圆的热量,降低晶圆温升现 7 象,保证工艺的稳定进行,进而保证薄膜质量。