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一种气相沉积装置2024

2024-06-01 07:30:51 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202410479388.1
  • 公开(公告)日:2024-06-25
  • 公开(公告)号:CN118064872A
  • 申请人:上海谙邦半导体设备有限公司
摘要:本申请实施例涉及半导体加工技术领域,特别涉及一种气相沉积装置。气相沉积装置包括腔体和承载机构。腔体具有相对设置的内壁面与外壁面,内壁面围设形成反应腔室;承载机构,部分位于反应腔室内,承载机构用于承载晶圆,且承载机构设置有加热单元;承载机构设置有供流体流动的第一通道,内壁面与外壁面之间设置有供流体流动的第二通道,第一通道的出口与第二通道的入口连通,第一通道的入口与第二通道的出口分别连接至提供冷却液的冷却源。本申请实施方式提供的气相沉积装置,能够在确保加热腔体效果的同时,有效降低CVD过程中的能耗和成本。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118064872 A (43)申请公布日 2024.05.24 (21)申请号 202410479388.1 (22)申请日 2024.04.22 (71)申请人 上海谙邦半导体设备有限公司 地址 201304 上海市浦东新区中国(上海) 自由贸易试验区临港新片区洲德路 1588号2幢2座 (72)发明人 王兆祥 张朋兵 梁洁 涂乐义  邱勇  (74)专利代理机构 上海汉盛律师事务所 31316 专利代理师 韩雪松 管雨 (51)Int.Cl. C23C 16/46 (2006.01) C23C 16/458 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种气相沉积装置 (57)摘要 本申请实施例涉及半导体加工技术领域,特 别涉及一种气相沉积装置。气相沉积装置包括腔 体和承载机构。腔体具有相对设置的内壁面与外 壁面,内壁面围设形成反应腔室;承载机构,部分 位于反应腔室内,承载机构用于承载晶圆,且承 载机构设置有加热单元;承载机构设置有供流体 流动的第一通道,内壁面与外壁面之间设置有供 流体流动的第二通道,第一通道的出口与第二通 道的入口连通,第一通道的入口与第二通道的出 口分别连接至提供冷却液的冷却源。本申请实施 方式提供的气相沉积装置,能够在确保加热腔体 效果的同时,有效降低CVD过程中的能耗和成本。 A 2 7 8 4 6 0 8 1 1

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