封装基板电镀均匀性检测装置、电镀装置及检测方法
- 申请专利号:CN202310132345.1
- 公开(公告)日:2025-08-19
- 公开(公告)号:CN116288611A
- 申请人:厦门安捷利美维科技有限公司|||上海美维科技有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116288611 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202310132345.1 C25D 7/12 (2006.01) G01N 27/00 (2006.01) (22)申请日 2023.02.17 G01R 19/165 (2006.01) (71)申请人 厦门安捷利美维科技有限公司 地址 361000 福建省厦门市中国(福建)自 由贸易试验区厦门片区嵩屿中路809 号航运大厦14F之八百八十一 申请人 上海美维科技有限公司 (72)发明人 宋景勇 田鸿洲 许托 冯后乐 秦丽赟 王安 刘青林 (74)专利代理机构 上海光华专利事务所(普通 合伙) 31219 专利代理师 余明伟 (51)Int.Cl. C25D 17/00 (2006.01) C25D 21/12 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 (54)发明名称 封装基板电镀均匀性检测装置、电镀装置及 检测方法 (57)摘要 本发明提供一种封装基板电镀均匀性检测 装置、电镀装置及使用方法,包括:电镀槽、导轨、 挂架、n个阳极网、整流器及分流器;n为大于1的
原创力.专利