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在Hastelloy合金基带上制备CeO2薄膜的方法

2023-06-11 11:38:37 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202211654613.8
  • 公开(公告)日:2024-10-18
  • 公开(公告)号:CN116219356A
  • 申请人:南宁师范大学
摘要:本发明公开了一种在Hastelloy合金基带上制备CeO2薄膜的方法,其在氧氛围下,对Hastelloy合金基带进行退火处理,退火处理条件为:升温速率为0.7‑55℃/s,升温至850‑900℃,恒温5‑30min,然后自然冷却至室温;然后在经退火处理的Hastelloy合金基带表面制备CeO2薄膜。本发明方法通过对Hastelloy合金基带进行预处理,使其表面生成以NiO为主的金属氧化物薄膜,改善其表面环境,从而创造出适宜CeO2薄膜择优取向的条件,解决了以往方法所生长的CeO2薄膜多为(111)取向的问题,同时相较于其他预处理方法,显著降低了成本和难度。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116219356 A (43)申请公布日 2023.06.06 (21)申请号 202211654613.8 (22)申请日 2022.12.22 (71)申请人 南宁师范大学 地址 530001 广西壮族自治区南宁市西乡 塘区明秀东路175号 (72)发明人 谢清连 韩徐 金艳营 赵新霞  吴振宇 苏玲玲 魏晋忠  (74)专利代理机构 北京远大卓悦知识产权代理 有限公司 11369 专利代理师 邓雪明 (51)Int.Cl. C23C 14/02 (2006.01) C23C 14/08 (2006.01) C23C 14/35 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图8页 (54)发明名称 在Hastelloy合金基带上制备CeO 薄膜的方 2 法 (57)摘要 本发明公开了一种在Hastelloy合金基带上 制备CeO 薄膜的方法 ,其在氧氛围下 ,对 2 Hastelloy合金基带进行退火处理 ,退火处理条 件为 :升温速率为0 .7‑55℃/s ,升温至850‑900 ℃,恒温5‑30min,然后自然冷却至室温;然后在 经退火处理的Hastelloy合金基带表面制备CeO2 薄膜。本发明方法通过对Hastelloy合金基带进 行预处理,使其表面生成以NiO为主的金属氧化

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