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直径确定方法、装置、电子设备及存储介质2024

2024-03-18 07:48:54 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202311099309.6
  • 公开(公告)日:2024-03-15
  • 公开(公告)号:CN117702253A
  • 申请人:隆基绿能科技股份有限公司
摘要:本发明实施例提供了一种直径确定方法、装置、设备及介质。该方法包括:在直拉单晶过程中,获取等径阶段的预设时长内的至少两个单晶棒图像;其中,至少有两个单晶棒图像中的晶线位置不相同,检测每个单晶棒图像中的亮环区域,根据所述至少两个单晶棒图像对应的亮环区域的外边界,确定单晶棒的晶棒直径,使得利用多个单晶棒图像,由于晶线的位置在至少两个单晶棒图像中不相同,消除了晶线对亮环区域的外边界的影响,从而避免利用亮环区域检测晶棒直径时晶线的影响,继而提高检测的晶棒直径的准确性。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117702253 A (43)申请公布日 2024.03.15 (21)申请号 202311099309.6 (22)申请日 2023.08.29 (71)申请人 隆基绿能科技股份有限公司 地址 710100 陕西省西安市长安区航天中 路388号 (72)发明人 郭力 李广砥  (74)专利代理机构 北京润泽恒知识产权代理有 限公司 11319 专利代理师 葛珊杉 (51)Int.Cl. C30B 15/26 (2006.01) C30B 29/06 (2006.01) 权利要求书2页 说明书14页 附图8页 (54)发明名称 直径确定方法、装置、电子设备及存储介质 (57)摘要 本发明实施例提供了一种直径确定方法、装 置、设备及介质。该方法包括:在直拉单晶过程 中,获取等径阶段的预设时长内的至少两个单晶 棒图像;其中,至少有两个单晶棒图像中的晶线 位置不相同,检测每个单晶棒图像中的亮环区 域,根据所述至少两个单晶棒图像对应的亮环区 域的外边界,确定单晶棒的晶棒直径,使得利用 多个单晶棒图像,由于晶线的位置在至少两个单 晶棒图像中不相同,消除了晶线对亮环区域的外 边界的影响,从而避免利用亮环区域检测晶棒直 径时晶线的影响,继而提高检测的晶棒直径的准 确性。 A 3 5 2 2 0 7 7 1 1 N C CN 117702253 A 权 利 要 求 书

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