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用于测定聚合物序列的方法2024
2024-11-16 12:02:33
发布于四川
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- 申请专利号：CN202411281002.2
- 公开（公告）日：2024-11-15
- 公开（公告）号：CN118957041A
- 申请人：牛津纳米孔科技公开有限公司
摘要：一种测定靶聚合物或其部分的共有序列的方法：提供多种聚合物，其中所述聚合物包括典型聚合物单元和非典型聚合物单元，并且所述聚合物中的每种聚合物包括与所述靶聚合物的区域相对应的聚合物单元的区域；分析与所述多种聚合物相关的信号的测量结果，其中测量结果取决于多个聚合物单元，并且其中所述靶聚合物的所述聚合物单元调制所述信号，并且其中非典型聚合物单元与对应典型聚合物单元不同地调制所述信号；以及根据所述多种聚合物的经过分析的一系列测量结果测定共有序列。
专利内容
一种测定靶聚合物或其部分的共有序列的方法：提供多种聚合物，其中所述聚合物包括典型聚合物单元和非典型聚合物单元，并且所述聚合物中的每种聚合物包括与所述靶聚合物的区域相对应的聚合物单元的区域；分析与所述多种聚合物相关的信号的测量结果，其中测量结果取决于多个聚合物单元，并且其中所述靶聚合物的所述聚合物单元调制所述信号，并且其中非典型聚合物单元与对应典型聚合物单元不同地调制所述信号；以及根据所述多种聚合物的经过分析的一系列测量结果测定共有序列。C12Q1/6869(2018.01);G16B40/10(2019.01);G16B40/20(2019.01);G01N27/02(2006.01)
