干扰性能测试系统2026
- 申请专利号:CN202311603349.X
- 公开(公告)日:2026-05-12
- 公开(公告)号:CN117614568A
- 申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117614568 A (43)申请公布日 2024.02.27 (21)申请号 202311603349.X (22)申请日 2023.11.28 (71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研 究所((工业和信息化部电子第五研 究所)(中国赛宝实验室)) 地址 511370 广东省广州市增城区朱村街 朱村大道西78号 (72)发明人 刘斌辉 赵凯 黄林轶 徐华伟 (74)专利代理机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 专利代理师 何涌畅 (51)Int.Cl. H04B 17/345 (2015.01) H04B 17/391 (2015.01) H04B 17/364 (2015.01) 权利要求书2页 说明书11页 附图5页 (54)发明名称 干扰性能测试系统 (57)摘要 本申请涉及一种干扰性能测试系统,系统包 括上位机、第一模拟装置、第二模拟装置和多个 定向天线;第一模拟装置通过与第一模拟装置连 接的定向天线建立与被测试设备间的被测通信 链路;第二模拟装置通过与第二模拟装置连接的 定向天线建立与被测试设备间的干扰通信链路, 第二模拟装置还用于与其他模拟装置之间建立 通信链路,以模拟干扰设备相互间的通信;上位 机与第一模拟装置、第二模拟装置和被测试设备 均连接,用于对第一模拟装置和第二模拟装置的 通信模拟参数进行配置,
原创力.专利