用压电晶体监控电子束增材制造的操作

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114433869 A (43)申请公布日 2022.05.06 (21)申请号 202111289040.9 (22)申请日 2021.11.02 (30)优先权数据 17/088,231 2020.11.03 US (71)申请人 通用电气公司 地址 美国纽约州 (72)发明人 斯科特 ·阿伦 ·戈尔德　 (74)专利代理机构 上海华诚知识产权代理有限 公司 31300 专利代理师 陈海琴 (51)Int.Cl. B22F 10/28 (2021.01) B22F 12/90 (2021.01) B33Y 10/00 (2015.01) B33Y 30/00 (2015.01) 权利要求书1页 说明书21页 附图8页 (54)发明名称 用压电晶体监控电子束增材制造的操作 (57)摘要 公开了用于监控电子束增材制造系统的操 作的部件的设备、系统、方法以及套件。监控系统 包括一个或多个测量设备，测量设备定位在增材 制造系统的构建室的内部的至少一个壁上。一个 或多个测量设备中的每一个包括压电晶体。监控 系统进一步包括通信地联接到一个或多个测量 设备的分析部件。分析部件编程为接收与压电晶 体的振荡频率有关的信息。在构建室内形成制品 期间，在一个或多个测量设备上的材料的收集引 起压电晶体的振荡频率的变化，该变化能够由分 析部件检测并可用于确定制品的潜在构建异常。 A 9