确定带电粒子束的亮度的方法、确定带电粒子束的源的大小的方法和带电粒子束成像装置2026
- 申请专利号:CN202311206290.0
- 公开(公告)日:2026-03-20
- 公开(公告)号:CN117894657A
- 申请人:ICT集成电路测试股份有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117894657 A (43)申请公布日 2024.04.16 (21)申请号 202311206290.0 (22)申请日 2023.09.18 (30)优先权数据 17/966,385 2022.10.14 US (71)申请人 ICT集成电路测试股份有限公司 地址 德国巴伐利亚州 (72)发明人 布鲁尔 ·约翰 埃伯格 ·多米尼克 费尔克斯·马蒂亚斯 (74)专利代理机构 北京律诚同业知识产权代理 有限公司 11006 专利代理师 徐金国 吴启超 (51)Int.Cl. H01J 37/22 (2006.01) H01J 37/28 (2006.01) 权利要求书3页 说明书15页 附图4页 (54)发明名称 确定带电粒子束的亮度的方法、确定带电粒 子束的源的大小的方法和带电粒子束成像装置 (57)摘要 描述了一种确定在带电粒子束成像装置 (100)中由聚焦透镜(120)朝样品(10)聚焦的带 电粒子束(11)的亮度(B )的方法。所述方法包 r 括:(a)用所述带电粒子束成像装置拍摄所述样 品的一个或多个图像(hf ,1 ...N) ;(b)从所述一个 或多个图像检索所述带电粒子束的一个或多个 束轮廓(gf ,1 ...N) ;以及(c)至少基于所述一个或 多个束轮廓(g )、所述带电粒子束的探针电
原创力.专利