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一种利用测井曲线定量判断深海区浅部地层超压的方法2025

2023-09-04 07:11:45 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202310697410.5
  • 公开(公告)日:2025-08-26
  • 公开(公告)号:CN116677373A
  • 申请人:中国地质大学(武汉)
摘要:本申请提供了一种利用测井曲线定量判断深海区浅部地层超压的方法,包括以下步骤:对非超压发育区的泥质沉积物样品进行湿密度测量和矿物组分测试;将湿密度与对应埋深的密度测井值间建立校正密度测井曲线,根据校正密度测井曲线对钻井各埋深处的密度测井值进行校正得到校正后的湿密度;根据孔隙度与平均骨架密度、校正后的湿密度之间的计算公式得到校正后的钻井各埋深处的孔隙度曲线;建立静水状态下孔隙度和埋深之间的趋势模型;根据孔隙度和埋深之间的趋势模型对深海区浅部地层的超压进行识别和定量预测。本申请的预测模型识别精度高,可有效识别整个井段的地层超压段及超压程度,弥补深海钻井稀,实测压力资料少的问题。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116677373 A (43)申请公布日 2023.09.01 (21)申请号 202310697410.5 (22)申请日 2023.06.12 (71)申请人 中国地质大学(武汉) 地址 430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路 388号 (72)发明人 王任 徐立涛 石万忠 何玉林  杜浩  (74)专利代理机构 武汉知产时代知识产权代理 有限公司 42238 专利代理师 吴晓茜 (51)Int.Cl. E21B 49/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图4页 (54)发明名称 一种利用测井曲线定量判断深海区浅部地 层超压的方法 (57)摘要 本申请提供了一种利用测井曲线定量判断 深海区浅部地层超压的方法,包括以下步骤:对 非超压发育区的泥质沉积物样品进行湿密度测 量和矿物组分测试;将湿密度与对应埋深的密度 测井值间建立校正密度测井曲线,根据校正密度 测井曲线对钻井各埋深处的密度测井值进行校 正得到校正后的湿密度;根据孔隙度与平均骨架 密度、校正后的湿密度之间的计算公式得到校正 后的钻井各埋深处的孔隙度曲线;建立静水状态 下孔隙度和埋深之间的趋势模型;根据孔隙度和 埋深之间的趋势模型对深海区浅部地层的超压 A 进行识别和定量预测。本申请的预测模型识别精 3 度高,可有效识别整个井段的地层超压段及超压 7 3 7 程度,弥补深海钻井稀,实测压力资料少的问题。 7 6

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