电子芯片、电子设备和电子芯片的检测方法
- 申请专利号:CN202211652342.2
- 公开(公告)日:2023-03-17
- 公开(公告)号:CN115630405A
- 申请人:北京紫光芯能科技有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115630405 A (43)申请公布日 2023.01.20 (21)申请号 202211652342.2 (22)申请日 2022.12.22 (71)申请人 北京紫光芯能科技有限公司 地址 100083 北京市海淀区王庄路1号院清 华同方科技大厦D座15层1511-06号 (72)发明人 黄钧 (74)专利代理机构 北京超凡宏宇专利代理事务 所(特殊普通合伙) 11463 专利代理师 宋南 (51)Int.Cl. G06F 21/71 (2013.01) G06F 21/73 (2013.01) G06F 21/44 (2013.01) G01R 31/28 (2006.01) G06F 18/213 (2023.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 电子芯片、电子设备和电子芯片的检测方法 (57)摘要 本发明提供了一种电子芯片、电子设备和电 子芯片的检测方法,电子芯片内设置有特征电流 控制器,特征电流控制器与电子芯片的主控制器 连接;特征电流控制器用于响应于主控制器的复 位保持开始事件,在主控制器的复位保持过程中 生成预设的特征电流信号;以及响应于主控制器 的复位结束事件,停止工作;主控制器用于响应 于复位保持开始事件,进入复位保持过程;以及 响应于复位结束事件,开始工作。电子芯片中包 括特征电流控制器,可以在复位保持过程中生成