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薄膜沉积反应腔和薄膜沉积设备2025

2024-01-30 07:19:24 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202311578564.9
  • 公开(公告)日:2025-04-18
  • 公开(公告)号:CN117448789A
  • 申请人:拓荆科技(上海)有限公司
摘要:本发明公开了一种薄膜沉积反应腔和薄膜沉积设备,通过在加热盘承载区域的边缘部分设置环形的凸起结构或环形的凹陷结构,这样可以根据薄膜沉积过程中等离子体在晶圆中心部分还是边缘部分的分布强度大来相应在加热盘承载区域边缘部分设置凹陷结构或者凸起结构,以此承载区域边缘部分至喷淋板间的距离,相应降低或提高等离子体在承载区域边缘部分的分布强度,从而改变晶圆边缘部分沉积薄膜的质量,从而保证晶圆中心部分和边缘部分的薄膜质量均匀性。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117448789 A (43)申请公布日 2024.01.26 (21)申请号 202311578564.9 (22)申请日 2023.11.23 (71)申请人 拓荆科技(上海)有限公司 地址 201306 上海市浦东新区中国(上海) 自由贸易试验区临港新片区鸿音路 1211号10幢304室 (72)发明人 王政 柴雪 李晶 田云龙  (74)专利代理机构 北京超凡宏宇知识产权代理 有限公司 11463 专利代理师 郭莲梅 (51)Int.Cl. C23C 16/455 (2006.01) C23C 16/458 (2006.01) C23C 16/509 (2006.01) C23C 16/52 (2006.01) 权利要求书1页 说明书5页 附图5页 (54)发明名称 薄膜沉积反应腔和薄膜沉积设备 (57)摘要 本发明公开了一种薄膜沉积反应腔和薄膜 沉积设备,通过在加热盘承载区域的边缘部分设 置环形的凸起结构或环形的凹陷结构,这样可以 根据薄膜沉积过程中等离子体在晶圆中心部分 还是边缘部分的分布强度大来相应在加热盘承 载区域边缘部分设置凹陷结构或者凸起结构,以 此承载区域边缘部分至喷淋板间的距离,相应降 低或提高等离子体在承载区域边缘部分的分布 强度,从而改变晶圆边缘部分沉积薄膜的质量, 从而保证晶圆中心部分和边缘部分的薄膜质量 均匀性。 A

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