发明

基于波长-时间映射的纠缠双光子源波长测量及反馈方法2025

2024-06-01 07:23:14 发布于四川 2
  • 申请专利号:CN202410173849.2
  • 公开(公告)日:2025-04-15
  • 公开(公告)号:CN118074799A
  • 申请人:中国科学院国家授时中心
摘要:本发明公开了一种基于波长‑时间映射的纠缠双光子源波长测量及反馈方法,应用于基于波长‑时间映射的纠缠双光子源波长测量及稳定装置,其中,所述测量装置包括:纠缠双光子源、第一单光子探测器、第二单光子探测器、密集波分复用器、色散元件和时间相关单光子计数器;本发明的基于波长‑时间映射的纠缠双光子源波长测量及反馈方法无需使用滤波器,不需要通过波长扫描方式获得纠缠双光子的波长信息,极大的减少了测量时间,满足了波长实时测量的需求,同时该方法与量子光学系统兼容,具有成本低廉易于实施的优点。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118074799 A (43)申请公布日 2024.05.24 (21)申请号 202410173849.2 (22)申请日 2024.02.07 (71)申请人 中国科学院国家授时中心 地址 710600 陕西省西安市骊山街道办事 处书院东路3号 (72)发明人 董瑞芳 刘妤婷 项晓 洪辉博  权润爱 刘涛 张首刚  (74)专利代理机构 西安江风云影知识产权代理 事务所(普通合伙) 61319 专利代理师 闫家伟 (51)Int.Cl. H04B 10/079 (2013.01) H04B 10/70 (2013.01) H04J 14/02 (2006.01) G01J 9/02 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 基于波长-时间映射的纠缠双光子源波长测 量及反馈方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于波长‑时间映射的纠 缠双光子源波长测量及反馈方法,应用于基于波 长‑时间映射的纠缠双光子源波长测量及稳定装 置,其中,所述测量装置包括:纠缠双光子源、第 一单光子探测器、第二单光子探测器、密集波分 复用器、色散元件和时间相关单光子计数器;本 发明的基于波长‑时间映射的纠缠双光子源波长 测量及反馈方法无需使用滤波器,不需要通过波 长扫描方式获得纠缠双光子的波长信息,极大的 减少了测量时间,满足了波长实时测

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